技术文章
当前位置:首页 > 技术文章 > 分析X-RAY镀层测厚仪的工作原理及特点
分析X-RAY镀层测厚仪的工作原理及特点
点击次数:97 发布时间:2019-04-10
  X-RAY镀层测厚仪是一种多功能实用型便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
 
  X-RAY镀层测厚仪的工作原理:
 
  镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
 
  X-RAY镀层测厚仪主要特点:
 
  1、M4 TORNADO采用了全新的技术,为各种用户提供了蕞佳的分析性能和非常方便的操控性。
 
  2、采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑蕞小,空间分辨率蕞高。
 
  3、采用无标样分析法精确定量分析块状样品,精确分析多层膜样品。
 


X-RAY镀层测厚仪

  4、使用XFlash®探测器超高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
 
  5、涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。
 
  6、高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合,确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管,可以根据不同的分析要求,优化激发光谱。
 
  7、可抽真空的样品室配有自动门,大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品,便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而精确的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。
点击这里给我发消息
联系人:樊先生
手机:
13761400826

推荐收藏该企业网站